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MLZ

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Tiefe Temperaturen

Kryostate des Typs CCR

Die Kryostate des Typs CCR sind sogenannte 'Toploader'. Das Probenrohr ist mit Austauschgas gefüllt. Die Temperatur wird durch einen an das Probenrohr befestigten Sensor und Heizelement reguliert. Der Probenhalter ist im Allgemeinen am Probenstab befestigt. Temperaturen im Bereich von 3.5 K bis Raumtemperatur (RT) can reguliert werden. Um Temperaturen oberhalb der RT bis 700 K zu erzielen, muss der Probenraum evakuiert werden und ein spezieller Hoch-Temperature Probenstab verwendet werden (verfügbar für CCR 9-11 und JTC 1-4). Für diesen Fall wird die Temperaturkontrolle durch einen am Probenstab befestigten Heizelement und Sensor realisiert.

Spezifikationen

 

CCR 7-9

JTC 1-4

JVC 1-2

Gemeinsame Eigenschaften

 

 

 

Temperaturbereich (K), mit Austausch im Probengas

2,8 – 300

3 – 300

1.5 – 300

Erweiterter Temperaturbereich (K), evakuierter Probenraum und HT Probenstab

T < 700 K

T < 700

-

Abkühlzeit des Kryostaten: 300 K – Basistemperatur (h)

min. 2.5

min. 2.5

min. 0.7

Abkühlzeit für den Probenwechsel mit dem Kryostaten bei der Basistemperatur (h)

< 1.5

< 1.5

min. 0.7

Abmessungen

 

 

 

Durchmesser des Probenraums (mm)

< 50 and < 80

< 60

< 50

Höhe des Probenraums (Strahlfenster) (mm)

~ 75

~ 100

~ 50

Verfügbare Probenstäbe

 

 

 

Standard-Stab für T (K)

< 300

< 300

< 300

Hoch-Temperatur-Stab für T (K)

< 700

< 700

-

Rotationsprobenstäbe um Probenrotation mit fixierter Kryostatposition

verfügbar

-

-

Gas-Adsorptions-Stab

verfügbar

-

-

Hoch-Temperatur-Stab

verfügbar

available

-

Hoch-Temperatur-Stab für Gasdruckzellen (max. 4 kbar)

verfügbar

-

-

Tief-Temperatur-Einsätze CCI (Low Temperature Inserts)

Um Temperaturen unterhalb 3 K zu erzielen, sind die CCI3He und CCI3He/4He Tieftemperatureinsätze für die CCR Systeme CCR 9-11 sowie JKC 1-2 – 3He/4He für die Kryostaten JVC 1-2 verfügbar. Eine zusätzlich notwendige Vorbereitungszeit von bis zu 4 h vor der ersten Abkühlung ist zu beachten.

Spezifikationen

 

CCl –       3He

CCl – 3He/4He

 JKC1-2 – 3He/4He

Temperaturbereich

450 mK – 10 K

50 mK – 1 K

20 mK – 1 K

Abkühlzeit (h)

5

7

6

Durchmesser des Probenraums (mm)

30

30

30

Höhe des Probenraums (mm)

145

70

100

Abstand der kalten Platte zur Strahlebene (mm)

106.5

27

80

Kryostate des Typs CC

Der Probenraum dieses Flüssig-Kryogen-freien Kryostaten CC ist innerhalb eines isolierten Vakuums. Das Temperieren der Probe wird durch thermische Leitfähigkeit des Probenhalters und der kalten Platte realisiert. Um Temperaturgradienten zu vermeiden, ist eine Probenbefestigung mit einer adäquaten thermischen Leitfähigkeit notwendig. Im Fall einer Probe mit einer niedrigen thermischen Leitfähigkeit sollte die Verwendung der Probe in einem Austauschgases (He) oder der Einsatz eines Kryostaten vom Typ CCR in Betracht gezogen werden.

Spezifikationen

 

CC1-4

CC5-6

CC-7-CCM

CC8-10

JCC1-3

Temperaturbereich (K)

2.8 – 300

2.2 – 300

2.2 – 300

2.8 – 600

3 – 300

Abkühlzeit 300 K – 2.8 K (h)

2.5

2

4

3

2.5

Abkühlzeit 600 K – 2.8 K (h)

-

-

-

5

-

Durchmesser des Probenraums (mm)

60

10

55

< 138 (CC-8); < 55 (CC-9, CC-10)

80

Höhe des Probenraums (mm)

110

10

85

< 136 (CC-8); < 85 (CC-9, CC-10)

100

Kontakt

Heiner Kolb
Telefon: +49 (0)89 289-14407
E-mail:

Galerie: Kryostate des Typs CCR (Closed Cycle Cryostats)

Schnitt durch einen Standard-CCR (CCR 9-11)
Schnitt durch einen Standard-CCR (CCR 9-11)
Probenstäbe für CCR 9-11
Probenstäbe für CCR 9-11
Standard Kryostat JTC
Standard Kryostat JTC

Galerie: Tieftemperatureinsätze CCI

Schnitt durch CCI-Inserts
Schnitt durch CCI-Inserts

Galerie: Kryostate des Typs CC

Schnitt durch CC-3
Schnitt durch CC-3
Schnitt durch CC-5 / CC-6
Schnitt durch CC-5 / CC-6
Schnitt durch CC-8
Schnitt durch CC-8
CC-Kryostat JCC mit Saphir-Fenster
CC-Kryostat JCC mit Saphir-Fenster

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